[陽明校區] 超高解析熱場發射式掃描式電子顯微鏡 (FE-SEM) JSM-7600F

• 更新日期：113-12-19
• 發布單位：儀器資源中心

[陽明校區] 穿透式電子顯微鏡 (TEM) JEM-1400plus

• 更新日期：113-12-19
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[光復校區] 掃描電子顯微鏡與電子束微影系統 SEM and EBL

• 更新日期：113-11-21
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[光復校區] 高解析度場發射掃描電子顯微鏡暨能量散佈分析儀 SEM S-4700I

• 更新日期：113-01-30
• 發布單位：儀器資源中心

[光復校區] 電子束晶圓缺陷檢測設備 eScan310

• 更新日期：113-01-30
• 發布單位：儀器資源中心

[光復校區] 場發射掃描式電子顯微鏡 (FE-SEM) JSM-6700F

• 更新日期：113-01-30
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