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國立陽明交通大學研究發展處

基礎服務-材料領域

  • 更新日期:114-04-25
  • 發布單位:儀器資源中心
【材料領域】高解析雙束型聚焦離子束顯微鏡
 
高解析雙束型聚焦離子束顯微鏡
 
  • High Resolution Dual-Beam Focused Ion Beam Microscope
    • 英文簡稱:FIB Microscope
    • 廠牌型號:ZEISS, Crossbeam 350
  • 儀器專家:吳文偉 教授
    • 分機 55395
  • 儀器諮詢與操作服務:分機 55346 
  • 儀器位置:光復校區 工程六館EF-104
儀器廠牌、型號、購置年限
  • 廠牌:蔡司 ZEISS
  • 型號:ZEISS Crossbeam 350
  • 購置日期:2024/12/11
功能
  • 電子顯微鏡試樣製備與相關APT試樣製備、EBSD及EDS等多元化分析資訊、大體積3D顯微組織分析
重要規格
SEM
  • Image resolution:
    • 0.7 nm (15kV)
    • 1.4 nm (1kV)
    • 1.0 nm (1kV, BD mode)
  • Accelerating voltage:0.01 to 30kV
  • Specimen bias voltage:0.0 to -5.0kV
  • Electron gun:In-lens Schottky Plus filed field emission gun
FIB
  • Image resolution:3 nm (at 30kV)
  • Accelerating voltage:0.5 to 30kV
  • Ion source:Ga liquid metal ion source
服務項目
  • 普通TEM試片製備,SEM、EBSD等相關樣品製備及基礎分析。
系統開放等級
  • 一般上班時段: B、C
  • 夜間及假日時段:A
附註:
  • C級:由本實驗室之技術人員接受委託服務,不開放使用。
  • B級:每位教授指派一位學生申請訓練,該教授之其他學生需由接受訓練的學生代為操作,若有教授使用該儀器之學生過多者,可向儀器負責人申請增加接受訓練學生人數。
  • A級:擁有B級執照且操作滿300小時,經大小助教核可。
     
開放時間表
  上午 下午 晚上
週一 08:00-12:00(校外委託操作) 13:00-17:00(儀器維護) 18:00-22:00(校內外A級自行操作)
週二 08:00-12:00(校外委託操作) 13:00-17:00(校內委託操作) 18:00-22:00(校內外A級自行操作)
週三 08:00-12:00(校外委託操作) 13:00-17:00(校內外B級自行操作) 18:00-22:00(校內外A級自行操作)
週四 08:00-12:00(校外委託操作) 13:00-17:00(訓練及考核) 18:00-22:00(校內外A級自行操作)
週五 08:00-12:00(校外委託操作) 13:00-17:00(校內外B級自行操作) 18:00-22:00(校內外A級自行操作)
週六 08:00-12:00(校內外A級自行操作) 13:00-17:00(校內外A級自行操作) 18:00-22:00(校內外A級自行操作)
收費標準
服務項目 Billing item 計畫預約 非計畫預約
委託 自行操作 委託 自行操作
電子顯微鏡試片製備 TEM Lamella 3000 1200 8000 不開放
背向散射電子繞射技術 EBSD 800 400 2400 不開放
EDS-點分析 Analysis at point 200 100 400 不開放
EDS-線分析 Analysis at line scan 240 120 500 不開放
EDS-面分析 Analysis at map 320 150 600 不開放
鍍白金 Coating Pt (0.1hr) 300 300 600 不開放
超時服務
(每小時)
Overtime Operation / hr 5000 3200 10000 不開放
技術員操作
(3小時)
Operation by technician / 3hr 9000   24000 不開放
儀器訓練
       (若2日無回覆,請寄給另外一位助教)

儀器預約
請先至國科會基礎研究核心設施預約服務管理系統預約時段

吳文偉 教授

儀器專家
分機:
55395
信箱:

蔡菁芫 同學

儀器技術員
分機:
55346

黃華靜 同學

儀器技術員
分機:55346
信箱:huajinghuang.en11@nycu.edu.tw
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