電子顯微鏡類-[光復校區] 場發射掃描式電子顯微鏡 (FE-SEM) JSM-6700F-國立陽明交通大學研究發展處

電子顯微鏡類

[光復校區] 場發射掃描式電子顯微鏡 (FE-SEM) JSM-6700F

Field Emission Scanning Electron Microscope
- 英文簡稱：FE-SEM
- 廠牌型號：JEOL, JSM-6700F
儀器專家：吳樸偉教授
- 分機 31227
儀器操作技術員：簡淑君小姐
- 分機 55327
- 信箱 scchien@nycu.edu.tw
儀器位置：工程六館103室

儀器廠牌、型號、購置年限
廠牌： JEOL
型號：JSM-6700F
購置年限：2005年12月

重要規格

電子槍冷陰極型式
解析度 1.0 nm (15KV) 2.2 nm (1KV)
電子槍真空度 10-8 Pa以下
倍率 25至650,000倍
加速電壓 0.5 to 30 KV
探針電流 10-13 to 2×10-9 A
試片大小限制直徑Φ25 mm × 高度10 mm
試片載台中心式試片台、X-Y移動範圍: 70 mm x 50 mm、旋轉範圍: 360°、工作距離: 1.5 mm to 25 mm、傾斜角度: -5° to +60°

服務項目
試片微觀結構觀察(SEM)、表面能階分析(EDS)

開放時間：
週一至週日
時段(一) 09：00 ~ 12：00
時段(二) 13：00 ~ 16：00
時段(三) 17：00 ~ 20：00
時段(四) 20：00 ~ 23：00

收費標準 一時段 3小時計。

備註：學術單位指各大專院校。一時段以3小時計。若超過3小時，超過之時數以每小時NT$200計。

管理辦法及使用辦法：

僅開放給通過Qualify的同學預約，請在預約單上填寫實驗室及個人姓名與聯絡電話，通過Qualify的同學請勿將您個人門禁卡借他人使用，否則雙方將各處以停權一個月。
若預約時段與助教training時段相衝，以助教training優先。
若預約時段與廠商儀器維護時段相衝，以儀器維護優先。
欲參加訓練及口試者請先至材料系系辦公告欄填寫個人資料。
警告累積達三次時，停權一個月。
請共同維護室內的整潔，不得將食物帶入實驗室之內，離開時請將工具及椅子排放整齊，如未確實遵守者記警告一次。
門禁電腦請勿任意關機，更嚴禁安裝任何遊戲及非法軟體，不可變更系統設定及上網，如未確實遵守一律停權。
實驗室內之所有設備、軟體屬於材料系財產，不可偷竊及破壞，否則追究相關責任。
個人在上機時段讓非經助教訓練過的同學上機操作一律記警告兩次，如果預約者與使用者不同人，則兩人各記警告兩次。

儀器訓練操作申請須知

自行操作：自行至EF103填寫預約單

委託操作：請先與助教或技術員聯繫。

備註

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