電子顯微鏡類
- 更新日期:114-01-15
- 發布單位:儀器資源中心
[陽明校區] 穿透式電子顯微鏡 (TEM) JEM-1400plus

- Transmission Electron Microscope
- 廠牌型號:JEOL JEM-1400plus
- 儀器位置:陽明校區 實驗大樓2F. B104室
- 管理單位:解剖所 鄭瓊娟 老師
- 校內分機 67072
- 管理人員:電顯室負責人
- 余玉英 技士(校內分機 65455)
- 何淑儷 技士(校內分機 65235)
- 使用資格:請洽電顯室負責人余小姐(分機65455)
- 校內預約使用
- 校外請先聯繫儀器負責人
- 預約 >>> 儀器預約系統
穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope – TEM) 具備高解像能力,影像解析度可達0.14nm,倍率百萬倍以上,比一般影像觀察及分析工具優越許多,而廣泛地用於材料分析。包含半導體、金屬、陶瓷、…等材料之微結構分析、微區成分分析、製程分析、故障分析及生醫試片的內部結構及組織分析缺陷之觀察。
- 穿透式電子顯微鏡 JEOL JEM-1400 PLUS
- 電子槍加速電壓 Accelerating Voltage
- 1-1電壓範圍至少40~120KV
- 1-2使用LaB6(六硼化鑭)燈絲
- 解析度:Lattice resolution ≦ 0.14nm
- 放大倍率:X10~X1500000倍
- 樣品移動載台 Specimen Stage:5軸馬達驅動(shift x/y, tilt x/y, z-height)
- 電子槍加速電壓 Accelerating Voltage
- 數位影像系統 GATAN 832 SC1000B
- CCD主體尺寸 >= 36mm x 24mm
- CCD像素大小 >= 4008 x 2672 pixels, each pixel 9um x 9um
- 能量分散光譜儀 OXFORD EDS X-Max 80T
- 感測器有效偵測面積 Single sensor 80mm2
- 解析力 127eV
- 三維斷層影像重構系統
- TEM 模式自動影像擷取軟體(Recording for TEM mode)
- 64位元 TEM三維重構軟體(Reconstruction software)
- 64位元 TEM三維可視化軟體(Visualizer software)
- 凡本校(含榮總)人員,於研究或教學上有其需要,並合乎下列情形中任何一項者,皆可提出申請使用:
- 曾使用過同類型電子顯微鏡,其操作技術經電子顯微鏡室負責人或技術人員認可者。
- 曾有非同類型電子顯微鏡使用經驗,經協助後熟悉操作,其技術經電子顯微鏡室負責人或技術人員認可者。
- 經由訓練課程研習而熟悉操作,其技術經電子顯微鏡室負責人或技術人員認可者。
- 校外人員欲使用電子顯微鏡或相關儀器 ,得視校內人員使用時間是否足夠而定,並向電子顯微鏡室負責人提出申請。
- 若人為使用不當,以致損壞機器,由該研究室主持人負責。
- 符合使用資格者,應先瞭解儀器設置及工作環境概況後,上網預約使用時間。
- 使用者於第一次使用各儀器時,將由有關技術人員從旁協助,以避免操作上的錯誤與困擾
- 使用者爾後使用各儀器時,若有任何技術上困難,請立即知會技術人員,切勿自行嘗試操作。
- 各項儀器均附有簡易明瞭的操作程序與注意事項,務請按照程序操作與使用,未經指示之旋(按)鈕開關,請切勿自行嘗試轉動。
- 使用JEOL JEM-1400plus請自備光碟片儲存實驗資料
- 研究實驗所使用的標本,請自行保留或清理,切勿留置於工作檯面,以免受污損或丟棄
- 使用完畢,請通知技術人員,並按指示,一切歸回原位,並記錄下任何有關事項。
- 使用者於論文發表時,需於致謝中提及「國立陽明交通大學電子顯微鏡設備之支援」或 This work was supported in part by the Electron Microscopy Facility in National Yang Ming Chiao Tung University。
本規則經電子顯微鏡使用管理委員會會議通過實施,修正時亦同。
週一 | 週二 | 週三 | 週四 | 週五 | |
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上午時段 | V | 技術人員上機 | 技術人員上機(校外) | 技術人員上機 | 技術人員上機 |
下午時段 | V | V | V | V | V |
V:認證者可預約自行操作上機
- 每星期一至五,上午八點半至下午五點,除上述時間外(為技術人員帶新使用者上機操作),均開放經認證通過者預約自行操作使用(EDS、3D Tomography由技術人員操作),每位使用者每週以使用4小時為原則。
- 星期三如無校外使用者預約,開放TEM校內使用者上機。
- 使用時間採預約登記,請上儀器資源中心網站預約,若有疑問請來電洽詢,校內分機65455(余玉英技士)或65235(何淑儷技士)。
- 經預約排定時間後,若因故未能使用,請務必於前一日網路取消預約時段。若連續二次預約而未使用者,則停止使用權利二個月。
- 電子顯微鏡與其它相關儀器的使用,所需相關儀器的維護及材料的消耗,將由各使用人分擔,收費標準如下:
- TEM上機(JEOL JEM-1400plus):NT$1050 /每小時(校內使用者依使用情形另有優惠)(校外使用者 NT$2100 /每小時)
- TEM上機(JEOL JEM-1400plus)加EDS:NT$1250 /每小時(校內使用者依使用情形另有優惠)(校外使用者 NT$2500 /每小時)。
- 3D Tomography:NT$1050 /每小時(校外使用者 NT$2100 /每小時);影像重構分析暫不收費,視使用情況召開會議訂定。
- 檢測時間不足一小時以一小時計費;因故未取消預約時段及當日未到者,一律收取第一小時費用。
- TEM標本超薄切片:校內教師研究計畫每個標本 NT$3,000(每個標本給4個銅網,不含染色。)
- 使用超薄切片機:製備玻璃刀之玻璃條請自備,或每條以 NT$360 計費。
- 若人為使用不當,以致損壞機器,由該研究室主持人負責。
電顯室設備
- JEOL JEM-1400plus 穿透式電子顯微鏡
- JEOL JSM-7600F 超高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡
- JFC-1200 Auto Fine Coater鍍金機(黃金)
- JFC-1600 Auto Fine Coater鍍金機(白金)
- Vacuum Evaporator (JEE-400) 真空蒸著器
- Tousimis PVT-3B 、Tousimis PVT-3D 臨界點乾燥機
- Leica EM UC7 超薄切片機
電顯室服務項目
- TEM (JEOL JEM-1400plus)上機操作及照相、EDS元素分析、3D Tomography (3D影像重構時間另安排)
- SEM (JEOL JSM-7600F)上機操作及照相
- 臨界點乾燥、鍍白金、鍍黃金
- 超薄切片
週一 | 週二 | 週三 | 週四 | 週五 | |
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上午時段 | JEM-1400plus (TEM) |
JEM-1400plus (TEM) |
JEM-1400plus (TEM)校外 |
JEM-1400plus (TEM) |
JEM-1400plus (TEM) |
下午時段 | JSM-7600F (SEM) |
CPD臨界點乾燥 | JEM-1400plus (TEM) |
JSM-7600F (SEM) 校外 |
JSM-7600F (SEM) |