分析儀類
EN- 更新日期：114-03-28
- 發布單位：儀器資源中心
[光復校區] 原子力顯微鏡 VT-SPM
- Variable Temperature Scanning Probe Microscope (under ambient condition or in high vacuum, at 100 – 1000 K)
- 英文簡稱：VT SPM
- 廠牌：日本SII Nanotechnology Inc.
- 型號：SPA-300HV
- 儀器專家：簡紋濱 教授
- 分機 56159
- 儀器操作技術員：劉興誠 同學
- 分機 56190
- 信箱: xl0553723@gmail.com
- 儀器位置：科學三館 009室（電物系）
儀器資訊
廠牌︰日本SII Nanotechnology Inc.
型號︰SPA-300HV
購置年月︰2004年6月
重要規格
本套設備提供室溫大氣下的AFM(原子力顯微鏡), MFM(磁力顯微鏡)等掃描探針顯微鏡功能。
用途：奈米尺度之表面形貌量測
解析度：X,Y：0.2 nm、Z： 0.01 nm (scanner：150 μm、20 μm)
掃描功能與探針：Contact mode atomic force microscope (AFM), Conducting contact mode atomic force microscope (C-AFM), Tapping mode atomic force microscope (DFM), Magnetic force microscope (MFM)
廠牌︰日本SII Nanotechnology Inc.
型號︰SPA-300HV
購置年月︰2004年6月
重要規格
本套設備提供室溫大氣下的AFM(原子力顯微鏡), MFM(磁力顯微鏡)等掃描探針顯微鏡功能。
用途：奈米尺度之表面形貌量測
解析度：X,Y：0.2 nm、Z： 0.01 nm (scanner：150 μm、20 μm)
掃描功能與探針：Contact mode atomic force microscope (AFM), Conducting contact mode atomic force microscope (C-AFM), Tapping mode atomic force microscope (DFM), Magnetic force microscope (MFM)
服務項目
表面形貌(Surface topography, 原子力顯微鏡可達一奈米解析度)、表面電性量測、表面磁性量測
開放時間
表面形貌(Surface topography, 原子力顯微鏡可達一奈米解析度)、表面電性量測、表面磁性量測
開放時間
- 週一至週五：9:00AM – 5:00PM
- 夜間及週六、日：洽儀器專家或操作人員
系統開放等級
- 一般上班時段：開放給校內使用者及校外專案申請者，可自行操作或由專業人員代為操作。(A級與D級)
- 夜間及假日時段：開放給校內使用者及校外專案申請者，須由專業人員代為操作。(D級)
系統開放等級說明
- A級：開放給需要使用之學生，經訓練考核後可自行操作。
- B級：每位教授指派一位學生申請訓練，該教授之其他學生需由接受訓練的學生代為操作，若有教授使用該儀器之學生過多者，可向儀器負責人申請增加接受訓練學生人數。
- C級：由儀器負責人選定教授推薦之學生若干人接受訓練，經考核後可自行操作儀器並得負責委託服務工作。
- D級：由本實驗室之技術人員接受委託服務，不開放使用。
| 單位 | 使用類別 | 費用 |
|---|---|---|
| 電物系 |
自行操作 | NT$600 /hr |
| 委託量測 | NT$800 /hr | |
| 校內單位 | 自行操作 | NT$1,000 /hr |
| 委託量測 | NT$1,200 /hr | |
| 校外學術單位 | 委託量測 | NT$1,500 /hr |
| 業界 | 委託量測 | NT$3,000 /hr |
| 探針 | NT$1,200/支 | |
- 可自備符合規格探針；或現場購買，需支付首次新購探針費用，後續視情況沿用或更換。
- 收費方式：量測費*實驗時數+探針費用
- 實驗時數包含樣品準備及轉檔存檔
管理辦法及操作辦法︰
外校使用者可採用下列兩種模式︰(一)委託測試(二)申請訓練，考試合格後預約時間自行上機。
儀器訓練操作申請須知︰
外校使用者可採用下列兩種模式︰(一)委託測試(二)申請訓練，考試合格後預約時間自行上機。
儀器訓練操作申請須知︰
- 填寫共同儀器操作申請單
- 經儀器專家認可，安排訓練時間。
儀器操作預約
- 填寫共同儀器操作申請單
- 經儀器專家認可，安排使用時間。
相關圖片：
