一、

1. 一組光源系統支援所有偵測模式，採 Xenon flash lamp高能量氙氣燈，燈泡壽命長，使用前不需暖機。
2. 可依據不同偵測模式調整氙氣燈泡閃爍次數。
3. 偵測器：依據不同偵測模式搭配最佳之偵測器（最多可加裝至3個）。
4. 樣品格式：6~384 微孔盤。不同微量盤偵測時不需另外更換Plate Adaptor或是Plate Holder。
5. 波長篩選：透過四重分光系統進行連續式全波長篩選，不需另購濾鏡。
6. 全波長光學系統為Quad4 Monochromator系統，可有效過濾雜光至10-6 倍，利用轉動Monochromator Mirror，掃描速度快速精確。
7. 震盪模式：Linear, Orbital或Double Orbital Shaking，提供11段振幅頻率（330 rpm ~ 1440 rpm），可以0.5 mm微調整。
8. 可直接面板操作 ,不需透過電腦即可執行微量盤進出動作。
9. 測量速度：96孔盤小於13秒，384孔盤小於30秒
10. 內建式電源供應器。
11. 使用電壓：120 – 240伏特自動感應。
12. 主機具USB 2.0 interface。
13. 溫度控制：室溫＋4至42℃ +/- 0.5℃
14. 完全模組化系統，擴增空間佳。

二、

1. 獨立光學系統，專用高速Monochromator及偵測器
2. 波長範圍：200 – 1000 nm (UV/VIS/NIR)
3. 測量範圍：0 – 4 OD
4. 偵測器模組：UV Silicon photodiode
5. 偵測準確度 (detection accuracy)：@260 <0.5 %
6. 偵測精確度 (detection precision)：@260 <0.2 %
7. 波長準確度 (wavelength accuracy)：≦0.8 nm
8. 波長再現性 (wavelength reproducibility)：≦0.5 nm
9. 200-1000nm光譜掃描速度：≦5 sec

三、

1. 判讀模式：上方以及下方判讀，支援時間差螢光測量模式
2. 波長範圍：激發光範圍： 230-900nm, 散射光範圍： 280-900nm
3. 頻寬可調 5 – 50nm; 5,7.5,10,15,20,25,30,50nm
4. 測量範圍：0~60,000 RFU
5. PMT偵測器模組：獨立 PMT,UV and red sensitive
6. 螢光放大倍數Gain值設定：可選擇自動判定(整盤自動分析，指定孔位分析或加強動態範圍)或手動設定，0~255範圍任意調整
7. 螢光靈敏度：上方判讀 20amol/well；下方判讀 0.2 fmol/well
8. 時間差螢光測量靈敏度：0.7amol/well
9. 波長準確度 (wavelength accuracy)：≦315nm：± 0.5 nm，＞315 nm：± 0.5 nm
10. 上方讀取實驗時自動執行Z-position，依據液面高度差異以1μm自動細微調整，取得最佳化的螢光讀值位置，及自動判定最佳化螢光訊號與背景值之高位置，並以圖表顯示掃描結果。

四、

1. 波長範圍：300-700 nm
2. 偵測器模組：獨立Photon Counting System with low dark current PMT, 單光子計數器，可精確讀取訊號較弱之冷光讀值。
3. 內建 Attenuation filter，有效偵測動態範圍可達109
4. Glow Luminescence偵測靈敏度：225 amol ATP/well,
5. Flash Luminescence偵測靈敏度：12 amol ATP/well
6. Integration Time/well：1~20000 ms
7. 讀取頭高度甚至可依據不同廠牌的微量盤自動調整最佳的Z-position讀取高度，可有效降低冷光樣品自發光的相互干擾，提高冷光偵測靈敏度。
8. Cross Talk：0.01 %
9. 內建long pass與 short pass濾鏡, 可支援19個波段之多色冷光偵測模式